13 marzo 2003

Restauro dei beni culturali, un convegno internazionale a Siena e un cd con tutte le carte, le risoluzioni, i documenti sulla conservazione

 

di

Il Centro Europeo di Ricerca sulla Conservazione e sul Restauro (Cerr) di Siena organizza, venerdì 14 e sabato 15 marzo 2003, un convegno internazionale sul tema “Carte, risoluzioni e documenti per la conservazione ed il restauro dei beni culturali”. La giornata di studio si svolgerà nella chiesa della SS. Annunziata all’interno del complesso museale del Santa Maria della Scala, in piazza del Duomo a Siena. Verranno presi in analisi i vari aspetti delle carte, sia internazionali che italiane, per la conservazione e per il restauro, analizzandone gli intenti, le interpretazioni e le influenze. Tra i chiamati ad intervenire ricordiamo Bruno Toscano, docente all’Università Roma 3, che parlerà su “I beni culturali: una prospettiva storica” e Bruno Zanardi, restauratore e docente dell’Università di Urbino, che terrà una relazione su “Il passaggio Brandi-Urbani e i precedenti della carta del rischio”. Parleranno anche Daniel Thérond, Fabrizio Lemme, Elisabetta Pallottino. L’evento, patrocinato da “Icom Italia ”, offre l’occasione di presentare un prezioso Cd-Rom contenente oltre 400 titoli, tutte le carte, risoluzioni e documenti per la conservazione ed il restauro dall’Ottocento ai giorni nostri. Il Cd-Rom ha l’immenso vantaggio di mettere a disposizione dell’utente i documenti, risolvendo così il problema della cospicuità dei materiali cartacei anche non facili da reperire, quali quelli di Riegl e di Dvorák.


L’iscrizione è obbligatoria e può avvenire anche in loco durante i giorni del convegno. La quota d’iscrizione è 100 Euro (50 Euro per i soci Icom, Icomos, Ari e studenti) sono inclusi il Cd-Rom e i coffee break. Il programma completo delle giornate di studio è consultabile sul sito www.comune.siena.it/cerr. Per informazioni telefonare al 0577 285296 o scrivere a cerr@comune.siena.it

[exibart]

LASCIA UN COMMENTO

Per favore inserisci il tuo commento!
Per favore inserisci il tuo nome qui